常用测试参数

LED必须在合适的电流电压驱动下才能正常工作。其电压-电流之间的关系称为I-V特性。通过对LED电特性的测试，可以获得对应正向电压（Vf）、反向电压（Vr）及漏电流（Ir）等参数，以及相应的I-V曲线。常用的测试方法一般为在LED器件的两端，加电压测试电流，或者加电流测试电压。此外，还可以根据客户要求，搭配相应的光学测试系统，测试相应的光学性能。

                    （典型二极管I-V特性曲线）                   （LED光电测试系统示意图）

Vf正向导通电压测试

正向导通电压，是LED在正常工作电流下测量的电压值。当加载在LED两端的工作电压，低于导通电压时，通过LED的电流J小，不发光。当电压超过该值后，通过LED的电流随电压迅速增加，而后LED发光。常用测试方法为，将LED的正极接在高电位端，负极接在低电位端，逐渐增加LED的电流（电流值一般为几mA），并同时测量LED两端的电压（电压值范围在几V以内）。而后根据实际测试需要，对数据进行分析，得到相应的Vf值。

Vr 反向击穿电压测试

反向击穿电压，是所允许加载在LED两端的Z大反向电压。当二极管两端的反向电压超过Vr后，反向电流会急剧增大，二极管将失去单方向导电特性，这种状态称为二极管的击穿。若长时间工作电压超过Vr，发光二极管可能被击穿损坏。常用测试方法为，将LED的正极接在低电位端，负极接在高电位端，逐渐增加LED的电流（电流值一般为几mA），并同时测量LED两端的电压（电压值范围在几V以内）。而后根据实际测试需要，对数据进行分析，得到相应的Vr值。由于源表可作为四象限工作的电压源，因此，在测试时，无需将接线端反接。源表内部会自动根据设定值，切换输出端的极性。

Ir漏电流测试

漏电流，指LED处于反向偏置状态时，流过二极管的微弱反向电流。此时，LED两端的电压低于Vr。常用的测试方法为，将LED的正极接在低电位端，负极接在高电位端，而后根据实际测试需要，设定加载在LED两端的电压，测量电流Ir。

绘制LED I-V特性曲线测试

连接

如下图所示，选择合适的夹具，将LED与S型源表进行连接

（源表测试连接示意图）

高精度源表IV扫描led电性能简介

普赛斯S系列高精度源表，集电压、电流输入输出及测量等多种功能于一体。产品Z大输出电压达300V，Z小测试电流达100pA，分辨率低至10pA，支持四象限工作，因此,可广泛应用于各种半导体器件I-V电特性测试，如半导体IC，功率半导体器件，传感器，LED等。产品具有如下特点：

• 采用5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作，操作简单方便

• 内置丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描

• 四象限工作模式，可在源模式或肼模式下工作

• 支持USB存储，一键导出测试报告

• 兼容多种上位机通讯方式，RS-232、GPIB及以太网

• 可搭配普赛斯自主开发的上位机软件使用，快速实现不同器件的测试

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