半导体分立器件测试仪,晶体管图示仪,IGBT动静态测试仪,MOS动静态测试仪,晶闸管测试...
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EN-DC3020便携式IGBT测试仪
系统特征
针对IGBT的各种静态参数而研制的智能测试系统
功率源 3000V200A
测试系统整体采用计算机全自动操控
测试数据由计算机记录,并进行 Excel 处理
采用脉冲法测试,脉宽为美军标规定
自动化程度高(可按设定的程序自动测试)
测试灵活(完美应对器件及多单元模块测试)
采用美国 NI 高速数据采集卡,信号采集精准
软件系统基于美国 National Instruments 仪器公司的
LabVIEW 平台开发,数据编辑处理功能强,菜单式,模块化,操作体验友好、设备操作简单、性能稳定非常适合电气,电子类厂商、 研究所做 IQC 来料检验、器件选型,失效分析以及学校教学和轨道机车地铁高铁检测使用。
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