产品说明、技术参数及配置:

CIT-3000SME能量色散X荧光分析仪是先达公司推出的达到世界先进水平、国内优先水平的全元素分析仪器、该仪器利用低能X光管进行激发、采用了国外先进的半导体电制冷探测器进行探测、为粉末样抽真空测量设计的上照式结构、分析元素多、范围广、2048道数字化多道脉冲分析技术对X射线光谱进行精细分析、一次性可以完成30多种元素的快速、准确分析、一台设备相当于一个化验室、是现代分析化学重要的分析手段之一。

应用范围:

钢铁行业：生铁、炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、 钛精矿、铁精粉、铁矿石等各种成份分析；

无机非金属材料：叶蜡石、高岭土、白云石、石灰石、玻璃、陶瓷、水泥等样品成份分析；

有色行业：铝厂各类样品、铅锌矿、铜矿、银矿、钼矿等各种成份分析；

地质行业：地质勘探、岩矿的粉末样品全元素分析

功能特点

1．独特的上照射式光路结构（一种自动化能量色散X荧光分析仪测试平台、发明专利：ZL201310446659.5、 2016.）专利技术的样品自动升降测量平台和自旋系统、测量粉末样品、具有不污染探测器、维护方便、重现性好等优点；

2．采用全数字化谱分析技术（一种核脉冲信号高速数字分离方法、系统及数字化谱仪、发明专利：ZL201410000626.2、 2015.）、计数率高、无漏计、稳定性好；

3．光管激发样品、无放射源、无毒无污染、多重安全的防护设计、使仪器的整机辐射完全符合国家辐射防护标准(提供省级及以上环保部门出具实行豁免管理文件)、让用户用的放心、安全可靠；

4．采用目前先进的电致冷硅漂移半导体探测器、分析元素多、分辨率高；

5．采用高真空度测样装置、消除了空气对低能 X 射线的阻挡、满足对轻元素的准确分析；

6．样品种类：粉状、块状；

7．腔内环境：空气或真空；

8．采用自动寻峰、S标样测量等方式、确保了仪器短期稳定性和长期稳定性；

9．根据不同样品自动切换滤光片和准直器、保证了不同类型样的测量精度；

10．开放式工作曲线标定平台、可量身定做物质检测分析和控制方案；

11．自行设定报告格式（Excel、PDF 等） 、符合多种统计及格式要求；

12．人性化设计、一体化结构、可适应不同环境、24小时连续工作、故障率低；

13．专业的分析软件、可以实现模式识别、自动分类、开放式软件操作平台、方便用户根据自身需要增加样品种类和类型、不受软件限制、融合了一系列先进的光谱处理方法、包括 FFT（快速傅立叶变 换滤波）、精准的背景扣除方法、微商自动寻峰和 Quasi-Newton(准牛顿)优化算法等；

14．2048道多道谱仪实时测量显示、对样品X光谱进行精细分析、系统可自动识别谱线、方便了解样品的组成；

15．可一次性多种元素的快速、无损、准确分析；

16．数据管理设有用户密码、加强测试数据的严肃性及质量品控的可靠性。

技术指标：

1．元素分析范围：Na（钠）—铀（U)

2．测量时间：30-200 秒

3．探测器：高分辨率进口探测器

4．仪器分辨率：优于100ev

5．高压：5KV-50KV

6．管流：5µA-1000µA

7．数字化多道分析器：2048 道

8．基线漂移自动校准

9．仪器分析精度：RSD≤0. 05%（采用连续 20 次分析同一个样品所得的数据统计）

10．输入电压：AC 220V±10％、50HZ

11．环境湿度：30％--80％ 12．仪器结构：适合粉末样品检测的上照式结构、具有升降平台和自旋系统的仪器。 13．准直器和滤光片：复合型多组自动切换 14．高清晰样品摄像头：500 万像素 15．真空度：高真空度 16．仪器冷却方式：风冷 17．仪器主机净重：80Kg