V9000是昂科推出的高性能大容量存储芯片测试分选机，本设备主要用于对UFS、SSD、eMMC、eMCP、LPDDR，UFS、UMCP等产品常温、高温环境下的SLT自动测试分选。

● IC自动上料，Tray自动分配，IC自动分BIN

● 集不同IC、Tray、BIB板的测试解决方案于一体

● CCD视觉检测，确保芯片的高精度取放作业

● 设备配备机械手臂，可同时满足open top和旋钮式老化板

● 效率: UPH>=1800 768个座子(25min长测时、UPH:1800)

● 精准视觉(+0.02mm)

● 吸嘴具有旋转纠偏功能

特色功能

超大容量老化测试系统

● 是市面常见设备的3倍以上的容量

● 预留天车、AGV接口

独立温控、压力控制系统

● 每颗芯片独立的温控检测系统

● 温控、压力控制更精准

CCD相机智能定位和调整

● 四组工业相机，精准搬送

● Auto Teach自动调整

ESD保护系统

● ESD处理系统

● 全内置进出料系统

高精度丝杆和导轨

● 精度高，稳定性好

● 易于维护

三重防叠料检测系统

●  CCD视觉检测

● 吸嘴实时叠料检测(专利技术)

● UID比较

搬送托盘技术

●  日本技术、20年时间考验，高稳定性搬送