探针式轮廓仪/台阶仪/Alpha-Step D-500 Stylus Profiler
Alpha-Step D-500探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D台阶高度。D-500还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。D-500包括一个手动140毫米平台和先进的光学系统以及加强视频控制。
产品描述
Alpha-Step D-500探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量，大垂直范围和低触力测量功能。
探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量，与材料特性无关。可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行准确测量。
通过测量粗糙度和应力，可以对工艺进行量化，确定添加或去除的材料量，以及结构的任何变化。
产品主要特点
台阶高度：几纳米至1200μm
低触力：0.03至15mg
视频：500万像素高分辨率彩色摄像头
梯形失真校正：消除侧视光学系统引起的失真
圆弧校正：消除由于探针的弧形运动引起的误差
紧凑尺寸：占地面积小的台式探针轮廓仪/台阶仪
主要应用
台阶高度：2D台阶高度
纹理：2D粗糙度和波纹度
形式：2D翘曲和形状
应力：2D薄膜应力
产品描述
大学，研究实验室和研究所
半导体和复合半导体
SIMS：二次离子质谱
LED：发光二极管
太阳能
MEMS：微电子机械系统
汽车